bellCreated using FigmaVectorCreated using FigmacalendarCreated using Figmaearth-globeCreated using FigmaenvelopeCreated using FigmaFax 1Created using FigmaVectorCreated using FigmaVectorCreated using Figmatelephone-handle-silhouetteCreated using Figma
ГоловнаНаукаЦентр колективного користування науковим обладнанням

Центр колективного користування науковим обладнанням "Створення та дослідження аерокосмічних об’єктів та систем" Національного аерокосмічного університету ім. М.Є. Жуковського "Харківський авіаційний інститут" має наступне обладнання:

Генератор сигналів R&S SMB100A-B140

Генератор сигналів R&S SMB100A з опцією B140 призначений для формованная НВЧ коливань в діапазоні частот від 100 кГц до 40 ГГЦ.

Крім синусоїдальних сигналів він генерує також найбільш поширені аналогові сигнали з амплітудною, частотною і фазовою модуляцією. Пристрій можливо використовувати для формування імпульсних сигналі.

Наявність механічного ступінчастого атенюатора з системним налаштуванням кроку дає змогу швидко здійснювати перестройку частоти або рівня вихідної потужності. Низький час установки параметрів вимірювального приладу сприяє підвищенню продуктивності.

Можливе керування пристрою за допомогою встановленого на комп’ютер програмного забезпечення.

Деякі технічні характеристики приладу:

  • діапазон частот від 100 кГц до 40 ГГц;
  • динамічний діапазон від -120 дБм до +8 дБм;
  • похибка рівня менше 0,5 дБ;
  • час установки рівня не більше 2,5 мс;
  • фазовий шум не більше -122 дбн;
  • підтримка режимів амплітудної, частотної та фазової модуляції.
 
 

 

 

 

Верстат фрезерний з числовим програмним управлінням і додатковим лазерним обладнанням

Технічні характеристики верстату:

  • робочий хід 2500х1500 мм
  • шпиндель 1500 Вт, максимальні оберти 24000 об\хв
  • лазерне джерело Raycus RFL 1000
  • оптична голова для лазерного різання металу з системою контролю руху та висоти
 
 

 

 

 

Мікроскоп електронний растровий з камерою низького вакууму і системою енергодисперсійного мікроанализу РЕМ-106

Призначений для дослідження рельєфу поверхні різних об'єктів у твердій фазі та визначення елементного складу об'єктів методом рентгенівського мікроаналізу по енергіях квантів характеристичного випромінювання в двох режимах: високого й низького вакууму.

У режимі низького регульованого вакууму мікроскоп, за допомогою високоефективного детектора відбитих електронів, забезпечує дослідження діелектричних зразків, зображення яких в високому вакуумі спотворюється накопиченням заряду електронів первинного променю. У режимі низького регульованого вакууму зображення напівпровідників, кераміки, полімерів, скла, дерева, фарб та інших непровідних матеріалів можна отримати без попереднього напилення.

Дослідження об'єктів у вторинних електронах забезпечує топографічний контраст. В відображених електронах - елементний контраст.

Прилад дозволяє проводити якісний та кількісний елементний аналізи досліджуваної області досліджуваного об'єкта.

Є можливість проводити в автоматичному режимі дослідження зміни концентрації елементів вздовж заданої оператором лінії.

Деякі технічні характеристики приладу:

  • Роздільна здатність у вторинних електронах в режимі високого вакууму не гірше 4 нм;
  • Роздільна здатність у вторинних електронах в режимі низького вакууму не гірше 6 нм;
  • Діапазон зміни збільшення від 15 крат до 300 000 крат;
  • Діапазон аналізованих елементів у високому вакуумі від 5В до 92U;
  • Діапазон аналізованих елементів в низькому вакуумі від12Mg до 92U;
  • Роздільна здатність рентгенівського енергетичного спектрометра на лінії Mn Kα не більше 143 еВ.
 
 

 

 

 

Мікроскоп електронний просвічує з міні-лінзами ПЕМ 100-01

Призначений для проведення досліджень мікроструктури та фазового складу об'єктів, забезпечує виконання візуального спостереження й фотографування зображення об'єкта в широкому діапазоні збільшень, отримування дифракційної картини від об'єктів.

Деякі технічні характеристики приладу:

  • Разрешающая здатність по кристалічній решітці - 0,34 нм, по точкам - 0,4 нм;
  • Діапазон електронно-оптичних збільшень от 50 до 600000 разів;
  • Ефективна довжина дифракційної камери від 200 до 2000 мм.
 
 

 

 

 

Великий фотомікроскоп відбитого світла NEOPHOT-30

NEOPHOT-30 (Carl Zeiss) оптичний мікроскоп відбитого світла для дослідження структури поверхні твердотільних зразків. Призначений для металографічної й рудної мікроскопії та створення фотознімків в діапазоні збільшень від 10 крат до 2000 крат. Спостереження може проводитися методом світлого та темного поля, а також в поляризованому світлі.
 
 

 

 

 

ДРОН-3М

ДРОН-3М - дифрактометр рентгенівський призначений для проведення широкого кола рентгеноструктурних досліджень різних кристалічних матеріалів, в тому числі визначення типу й параметрів кристалічної решітки.

 
 

 

 

 

Вакуумний універсальний пост ВУП-5М

 

Вакуумний універсальний пост ВУП-5М призначений для досягнення вакууму в робочому об’ємі, необхідного для нанесення за допомогою поста плівок з різних матеріалів методами магнетронного, резистивного й електронного розпилення, а також травлення матеріалів в плазмі, препарування об'єктів, досліджуваних за допомогою електронного мікроскопа.

 

 
 

 

 

 

Диспергатор ультразвуковий УЗДН-А

Призначений для препарування об'єктів з волокнистих, кристалічних, порошкоподібних та інших речовин при електронно-мікроскопічних дослідженнях в біології, хімії, медицині, мінералогії, металознавстві й інших областях науки.

Крім основного призначення диспергатор може бути використаний для отримання суспензій та емульсій з різних речовин, відмивання дрібних деталей від механічних забруднень.

 
 

 

 

 

Інструкції з подання документів при вступі до ХАІ

Переглянути