Мікроскоп електронний растровий з камерою низького вакууму та системою енергодисперсійного мікроаналізу РЕМ-106 (Selmi, Суми)
Призначений для дослідження рельєфу поверхні різних об'єктів у твердій фазі та визначення елементного складу об'єктів методом рентгенівського мікроаналізу з енергій квантів характеристичного випромінювання у двох режимах: високого вакууму та низького вакууму.
У режимі низького регульованого вакууму мікроскоп за допомогою високоефективного детектора відбитих електронів забезпечує дослідження діелектричних зразків, зображення яких у високому вакуумі спотворюється накопиченням заряду електронів первинного променю. У режимі низького регульованого вакууму зображення напівпровідників, кераміки, полімерів, скла, дерева, фарб та інших непровідних матеріалів можна отримати без попереднього напилення.
Дослідження об'єктів у вторинних електронах забезпечує топографічний контраст. У відбитих електронах елементний контраст.
Прилад дозволять проводити якісний та кількісний елементний аналізи досліджуваної області об'єкта, що вивчається.
Є можливість проводити дослідження зміни концентрації елементів уздовж лінії, що задається оператором в автоматичному режимі.
Технічні характеристики приладу:
1. Роздільна здатність у вторинних електронах у режимі високого вакууму не більше 4 нм;
2. Роздільна здатність у відбитих електронах у режимі низького вакууму не більше 6 нм.
3. Діапазон зміни збільшення від 15 разів до 300000 разів.
4. Діапазон аналізованих елементів у високому вакуумі від 5В до 92U.
5. Діапазон аналізованих елементів у низькому вакуумі від 12Mg до 92U.
6. Роздільна здатність рентгенівського енергодисперсійного спектрометра на лінії Mn Kα не більше 129 еВ (детектор XR-100FASTSDD фірми Amptek, США).
Мікроскоп електронний просвічуючий з міні-лінзами ПЕМ 100-01 (Selmi, Суми)
Призначений для проведення досліджень мікроструктури та фазового складу об'єктів. Є можливість проводити візуальне спостереження та фотографування зображення об'єкта у широкому діапазоні збільшення, отримувати дифракційні картини від об'єктів.
Технічні характеристики приладу:
1. Роздільна здатність по кристалічній решітці – 0,34 нм, по точках – 0,4 нм.
2. Діапазон електронно-оптичних збільшення від 50 до 600000 разів.
3. Ефективна довжина дифракційної камери від 200 до 2000 мм.
Великий фотомікроскоп відбитого світла NEOPHOT-30
NEOPHOT-30 (Carl Zeiss) оптичний мікроскоп відбитого світла на дослідження структури поверхні твердотільних зразків. Призначений для металографічної та рудної мікроскопії та створення фотознімків у діапазоні збільшення від 10 разів до 2000 разів. Спостереження може проводитися методом світлого та темного поля, у поляризованому світлі.
ДРОН-3М
ДРОН-3М – дифрактометр рентгенівський загального призначення використовується для проведення широкого кола ренгеноструктурних досліджень різних кристалічних матеріалів, у тому числі визначення типу та параметрів кристалічної решітки.
Вакуумний універсальний пост ВУП-5М (також маємо ВУП-2К) (Selmi, Суми)
Вакуумний універсальний пост ВУП-5М призначений для одержання вакууму в робочому об'ємі, необхідного для нанесення плівок з різних матеріалів методами магнетронного, резистивного та електронного розпилення, а також травлення матеріалів у плазмі, препарування об'єктів, що досліджуються за допомогою електронного мікроскопа.
Диспергатор ультразвуковий УЗДН-А (Selmi, Суми)
Призначений для препарування об'єктів із волокнистих, кристалічних, порошкоподібних та інших речовин при електронно-мікроскопічних дослідженнях у біології, хімії, медицині, мінералогії, металознавстві та інших галузях науки. Крім основного призначення, диспергатор може бути використаний для отримання суспензій і емульсій з різних речовин, відмивання дрібних деталей від механічних забруднень.